高加速应力环境试验箱
HAST Chamber · 用于IC半导体可靠性测试的高温高湿偏压系统
适用于以下半导体可靠性测试项目及行业：HTRB (高温反向偏压)、HTGB (高温栅极偏压)、H3TRB (高温高湿反偏)、高压MOSFET测试、IGBT模块测试、光电元器件、汽车电子、航空航天器件
产品简介
HAST（高加速温湿度偏压测试）试验箱专为半导体、电子元器件、PCB等产品的可靠性验证而设计。设备可在高温（最高130℃）、高湿（最高85%RH）及偏压条件下，加速激发产品潜在缺陷，是JEDEC、IEC等国际标准推荐的测试工具。
采用优质不锈钢内胆与智能温湿度控制系统，确保测试环境稳定、均匀，并配备多重安全保护机制，适合长时间无人值守运行。
技术参数
- 温度范围：+105℃ ～ +130℃ (可控)
- 湿度范围：65% ～ 85% RH (可控)
- 偏压电压：0 ～ 500V (可编程)
- 内箱尺寸：W 600 × D 600 × H 800 mm (可定制)
- 温度波动度：≤ ±0.5℃
- 湿度波动度：≤ ±2.5% RH
- 安全保护：超温保护、缺水保护、过压保护、漏电保护
核心优势
- 精准温控：高精度PID调节，温度均匀度优于±1℃
- 防结露设计：独特内箱壁温控制，避免冷凝水滴落样品
- 安全可靠：多重独立保护系统，支持远程报警
- 智能软件：支持PC端监控、数据记录与测试报告生成
